反射膜厚仪

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反射膜厚仪RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化,以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量,且测量非常稳定。详见RM1000/2000介绍!

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FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 µm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围广泛的预定配方。详见FTPadv介绍!

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光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析,这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中,使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。详见FTPadv expert 介绍!

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