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少子寿命测试仪11111

灵活的自动扫描系统MDPmap

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MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器,在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后,容易地应用于包括外延层的各种不同样品。

MDPmap的主要优点是灵活性高。例如,它允许集成多达四个激光器,用于从超低注入到高注入的与注入水平相关的寿命测量,或者通过使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏光设施,以及μ-PCD或稳态注入条件的选择。可以使用不同的测量图形进行客户定义的计算,以及导出用于进一步评估的主要数据。对于标准测量,预定义的标准仅通过按一个按钮即可实现常规测量。


优势

  • 在几乎任何生产阶段,电活性缺陷或材料性能的可视化实现了工艺优化和设备的性能预测。
  • 极其通用的测量方法可实现特殊测量以及国际标准的可追溯性。
  • 小型紧凑的台式工具,具有很高的测量灵敏度,便于快速常规测量。

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