• 首页
  • 查找
  • 登录
  • 联系
  • 打印
  • English
安科瑞泰科技(北京)有限公司_SENTECH仪器中国办事处
  • 产品中心
  • 联系与服务
  • 关于我们
等离子工艺设备
等离子刻蚀
等离子刻蚀
  • ICP-RIE SI 500
  • RIE Etchlab 200
  • RIE SI 591 compact
等离子沉积
等离子沉积
  • ICPECVD SI 500 D
  • PECVD SI 500 PPD
  • PECVD Depolab 200
原子层沉积
原子层沉积
  • ALD Systems
  • ALD Real Time Monitor
多腔系统
多腔系统
  • 集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统
薄膜测量仪器
光谱椭偏仪
光谱椭偏仪
  • SENresearch 4.0
  • SENpro
  • SENDIRA
  • SENDURO
  • SpectraRay/4
激光椭偏仪
激光椭偏仪
  • SE 400adv
  • CER Ellipsometer
反射膜厚仪
反射膜厚仪
  • RM 1000/RM 2000
  • FTPadv
  • FTPadv Expert
光伏测量仪器
晶体硅电池应用
晶体硅电池应用
  • SENperc PV
  • SE 400adv PV
  • SE 800 PV
薄膜电池应用
薄膜电池应用
  • SenSol
  • RT Inline
少子寿命测试仪
少子寿命测试仪
  • MDPinline
  • MDPinline ingot
  • MDPinlinescan
  • MDPpro
  • MDPmap
  • MDPspot
技术服务
技术服务
技术支持
技术支持
联系我们
联系我们
销售网络
销售网络
新闻
新闻
近期活动
近期活动
人才招聘
人才招聘
项目与合作
项目与合作
会员资格
会员资格
Welcome
to SENTECH
SENTECH - Erfolg durch Leistung
联系与服务
首页//联系与服务//技术支持
  • 技术服务
    • Service Documents
    • 技术支持
    • 联系我们
    • 销售网络
      • America
        • Canada
        • USA
      • Australia
        • Asia
          • China
          • Bangladesh
          • India
          • Iran
          • Japan
          • Korea
          • Pakistan
          • Singapore
          • Taiwan
        • Europe
          • Austria, Benelux, Germany, Switzerland
          • Czech Republic
          • France
          • Italy
          • Poland
          • Portugal
          • Russia
          • Spain
          • Turkey
          • UK

      SENTECH仪器(德国)有限公司
      代表处

      电话:+86-10-8248 8819

      传真:+86-10-8248 6510

      邮箱:info@sentech-instruments.com.cn

      技术支持

      等离子刻蚀:

      硅基MEMS低温ICP 刻蚀

      GaAs/AlGaAs VCSEL高速刻蚀

      GaN 在ICP中的刻蚀工艺

      Bosch工艺气体切换深硅刻蚀

      金属铌Niobium 在ICP中的刻蚀工艺

      硅锗纳米线的低损伤刻蚀

      压电材料铌酸锂的ICP刻蚀工艺

      汞碲化镉MCT(Mercury Cadmium Telluride)的刻蚀工艺

      压电材料钽酸锂的ICP刻蚀工艺

      二氧化硅微透镜阵列的ICP刻蚀工艺

      碳化硅通孔的刻蚀

      GaAs/AlGaAs叠层结构的刻蚀

      硅/硅锗量子线的刻蚀

      石英二元光学玻璃的刻蚀

      金属铬Cr的ICP刻蚀工艺

      特殊材料LanGaSit(La3Ga5SiO14) 的ICP刻蚀

      聚合物的刻蚀

      金属氧化物ZrO2的刻蚀

      特殊材料PZT(Lead Zirkonate Titanate) 的ICP刻蚀

      GaSb的ICP刻蚀工艺

      InSb的ICP刻蚀工艺

      光子晶体PhC的ICP刻蚀工艺

      蓝宝石sapphire的刻蚀工艺

      金刚石的刻蚀工艺

      侧壁光滑的InP pillar的刻蚀工艺

      等离子沉积:

      低应力介质膜Si3N4的沉积

      低温条件下沉积介质膜Si3N4

      Si3N4在AlGaAs上的低损伤沉积工艺

      高电学性能SiO2的沉积工艺

      GaSb pixels钝化层Si3N4的沉积

      有机材料壁垒层Si3N4的沉积

      非晶硅的沉

      MOS barrier上SiO2的沉积工艺

      以TEOS取代硅烷的SiO2的沉积工艺

      碳化硅SiC的沉积工艺

      Si3N4在InP上的沉积

      DLC(Diamond Like Carbon)的沉积

      原子层沉积:

      热方式沉积Al2O3, ZnO, TiO2, HfO2等氧化物

      等离子方式沉积Al2O3, SiO2, TiO2, HfO2等氧化物

      等离子方式沉积AlN,Si3N4, TiN等氮化物

      等离子方式沉积金属,如Pt

      EFREDIN ISO 9001 Certificate valid until 2013
      • 顶部
      • 打印
      • 版本说明
      • 法律信息
      • 网站地图
      Copyright © 2006-2018 SENTECH Instruments GmbH
      All rights reserved.京ICP备10012036号-1POWERED BY BBCTOP.COM