光谱椭偏仪
光谱椭偏仪测量单层和多层叠层的膜厚和折射率。可用于分析体材料，各向同性和各向异性材料、表面和界面粗糙度以及梯度的相关特性。
新的SENresearch 4.0设计用于光谱椭偏仪，在宽的光谱范围从190nm（深紫外）到3,500 nm（近红外）。每一台SENresearch 4.0都是客户特定的椭偏光谱解决方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩阵、各向异性、广义椭偏、散射测量等。使用步进扫描分析器原理实现测量结果。详见SENresearch 4.0介绍！
SENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计，入射角度步进值5°。操作简单，快速测量和直观的数据分析相结合，以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。详见SENpro介绍！
振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带，分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。详见SENDIRA介绍!
SENDURO®全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作：放置样品，自动样品对准，自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和研发中的常规应用。详见SENDURO®介绍!
光谱椭偏软件SpectraRay/4 的设计基于直观的工作流程。因此，SpectraRay/4 包括具有两步动作(开始测量，结果)的测量处方模式和用于逐步数据分析的交互模式。SpectraRay/4 的综合软件包支持广义椭偏，穆勒矩阵，散射法(3D轮廓仪)、各向异性和建模。详见SpectraRay/4 介绍!
