2019.1.9，国家纳米科学技术中心
SENTECH椭偏测量研习班在北京成功举行
SENTECH仪器应用工程师Mr. Peters介绍了SENTECH光谱椭圆测量综合软件- SpectraRay/4。
2019年1月9日至11日，SENTECH仪器在中国北京举办了一次关于椭偏测量的研习班。国内众多科学家和用户都对SENTECH创新的薄膜测量仪器有着浓厚的兴趣。也正是因为这样，SENTECH仪器经常在中国组织面向用户应用的研讨会和研习班。这是为了向现有用户和潜在客户展示最新的测量应用及其使用可能性。
为期三天的研习班在“国家纳米科学技术中心”（NCNST）举行，该中心是SENTECH仪器在中国等离子设备和测量仪器最重要的用户之一。
研习班的主要议题是SENTECH综合光谱椭偏测量软件SpectraRay/4的各种应用模式及其解决简单和最复杂薄膜应用的核心功能。
研讨会的25名与会者代表了来自中国科研院所、大学和公司的科学家们。他们对SENTECH仪器高级应用工程师Sven Peters的演讲非常感兴趣。他介绍了椭偏应用的典型案例，包括色散模型（从简单的柯西模型到复杂的振荡器模型）的使用，穆勒矩阵形式，以及周期结构的散射测量研究。Sven Peters讨论的应用引起了与会者的广泛兴趣。同时也感谢SENTECH仪器中国办事处的工程师Tennyson Wang在现场的精彩翻译。
对于所有的参与者，在两天的研习班结束后，我们也提供仪器现场测量他们自己的样品。他们中的许多人也借此学习机会更多地了解SENTECH椭偏仪。测量结果可以进行比较，验证其有效性，最终结果也可以与Sven Peters或Tennyson Wang讨论。此外，参与者还能够认识到SENTECH椭偏仪如何正确解决他们的测量应用，并且了解更多SpectraRay/4的关键功能。
我们要感谢本次活动的所有参与者对SENTECH椭偏仪产品的兴趣和参与度。同时，我们也要对那些因场地空间限制而不能参加这次研习班的用户表示歉意。我们很快会举办下一次研习班，若您有兴趣参加，请及时与我们的中国销售办事处取得联系。我们要特别感谢NCNST的负责人，为我们提供研习班会议场地以及实验室。
