首页
查找
登录
联系
打印
English
产品中心
联系与服务
关于我们
等离子工艺设备
等离子刻蚀
ICP-RIE SI 500
RIE Etchlab 200
RIE SI 591 compact
等离子沉积
ICPECVD SI 500 D
PECVD SI 500 PPD
PECVD Depolab 200
原子层沉积
ALD Systems
ALD Real Time Monitor
多腔系统
集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统
薄膜测量仪器
光谱椭偏仪
SENresearch 4.0
SENpro
SENDIRA
SENDURO
SpectraRay/4
激光椭偏仪
SE 400adv
CER Ellipsometer
反射膜厚仪
RM 1000/RM 2000
FTPadv
FTPadv Expert
光伏测量仪器
晶体硅电池应用
SENperc PV
SE 400adv PV
SE 800 PV
薄膜电池应用
SenSol
RT Inline
少子寿命测试仪
MDPinline
MDPinline ingot
MDPinlinescan
MDPpro
MDPmap
MDPspot
技术服务
技术支持
联系我们
销售网络
新闻
近期活动
人才招聘
项目与合作
会员资格
Welcome
to SENTECH
首页
//
关于我们
//
近期活动
//International Conference on ALD Applications & 2018 China ALD Conference
新闻
公司新闻
产品新闻
近期活动
人才招聘
项目与合作
会员资格
SENTECH仪器(德国)有限公司
代表处
电话:+86-10-8248 8819
传真:+86-10-8248 6510
邮箱:
info@sentech-instruments.com.cn
返回上级
活动名称:
International Conference on ALD Applications & 2018 China ALD Conference
日期:
Oct 14, 2018 - Oct 16, 2018
国家:
Shenzhen, China
描述: